微區XRF在諸如月壤等珍貴地質樣品的成分分析中，其強大的面掃描功能能夠在無損、樣品無制備的情況下，快速獲得顆粒樣品中各元素的分布情況并且能夠給出準確可靠的定量、半定量結果， 為樣品后續的分析奠定重要基礎。

白光干涉儀的作用，可以進行膜厚測量，溝槽測量，翹曲分析，表面粗糙度測量，表面高度及盲孔測量，樣品表面圖案尺寸測量等。廣泛應用于半導體，光學器件，太陽能電池，MEMS，生命科學，材料學等行業。

Conductive AFM (cAFM) — 導電原子力顯微鏡（CAFM）是一種源自接觸AFM的二次成像模式，它表征了中到低導電和半導體材料的導電率變化。CAFM的電流范圍為pA至μA。

Bruker M4 Tornado 微區X射線熒光光譜儀是樣品成分分析、成分分布規律研究的新利器。

布魯克元素分析產品選型指南

是利用物質在火花激發下，檢測器通過檢測不同元素的特征譜線，而進行元素的定性與定量分析的。